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EMIチェック機能

DEMITASNX製品の概要説明資料を、右の“資料ダウンロードはこちら”ボタンより入手することができます。

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EMIチェック機能

EMIの原因となる部品配置や配線、プレーン部分を抽出し、その対策案を示します。
DEMITASNXが持つチェック項目は、過去の膨大なEMI対策ノウハウを基に、NECの研究所と国内外の大学で検証し、EMIとの関係が理論的に裏付けられた項目を厳選しています。
そのため、意味のあるチェック項目のみに絞り込まれています。

電源-GNDプレーン共振解析機能

NECのEMI対策技術を実装

  1. 配線長チェック
  2. ヴィア数チェック
  3. GV プレーンまたぎチェック
  4. リターンパス不連続チェック
  5. 基板端チェック
  6. 放射電界チェック
  7. SGパターン有無チェック
  8. SGパターンヴィア間隔チェック
  9. プレーン外周チェック
  10. フィルタチェック
  11. デカップリングキャパシタチェック
  12. 差動信号チェック
  13. クロストークチェック
  14. デジアナ干渉チェック
  15. LSIグランド分離チェック

AI絞込み機能[New]

EMIチェック結果 AI絞込み機能

AI絞込み機能では、EMC専門家の知見をAI(ディープラーニング)により学習しており、専門家が見るべきポイントでチェック結果を確認できるようになります。
これによりチェック結果が重要なエラーに絞り込まれ、レビュー時間の短縮・設計品質の向上に貢献します。

効果
  • AIによる自動絞込みによりデザインレビュー時間を短縮(NEC提供AIではエラー数75%削減)
  • 統一的な判断基準で絞込むことにより個人判断が減り、設計品質のバラつきを減少
  • 利用者の育成や引き継ぎの負荷軽減
利用形態

EMIチェック結果 AI絞込み機能には、以下2通りの利用形態があります。

(1) NEC提供AIモデルを利用した絞込み機能 (Ver.6 標準機能)

NECのノウハウ、およびEMCコンサルタントの知見を学習したAIモデルにより、汎用性の高い絞込みを実現します。

(2) ユーザサイド学習AIモデルを利用した絞込み機能 (オプション)

お客様が保有する設計ノウハウ、個別製品特有の設計ノウハウを学習したAIモデルを作成でき、個別製品に適した絞込みが可能です。

エラースクリーニング機能

EMIチェックにより、あまりにも多くのエラーが検出されると、いくつかのエラーを修正してもエラーはなくなりません。
そこで、重要なエラーや、エラーを多数含むネットを抽出するスクリーニング機能を用いることで、EMI低減に、より効果的なエラーを示します。これにより修正すべきエラー数を簡単に絞り込むことができます。

レポート作成機能

オプション

自動的にエラー内容をレポートファイルとして作成します。エラー位置のスクリーンショットやエラーの内容、対策案などが掲載されます。
自動作成されたレポートファイルに加筆・修正することで、報告書や設計変更指示書などの作成の手間を大幅に削減できます。

放射電界チェック詳細解析

EMC Expert機能

放射電界チェックは、複雑なEMIの中で、各信号配線のEMI発生危険性を算出しています。
そのため、必要最小限な情報以外はデフォルト値としています。
今回EMC Expert版では、信号毎の電圧波形の立ち上がり時間やダンピング抵抗値を変更できるようになりました。これにより、より実際の放射に近い放射値の計算が可能となります。
また放射の結果をグラフ化して表示するため、危険な周波数帯などを確認することができます。

カタログをご希望の場合は対象製品名と必要部数を、お問い合わせの場合は本文中に”製品名”のご記入をお願いいたします。

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