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NECの研究開発
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プレスリリース
TOPICS
- 2022年4月28日
- TOPICSNEC技報 最新号「社会のデジタルトランスフォーメーションを加速するDXオファリング特集」を公開しました。
本特集では、これまでのDXの取り組みをベストプラクティスとしてまとめ、お客様のDX課題をスピーディかつ高品質に解決するソリューション群であるDXオファリングについて紹介しています。
詳細はこちら - 2022年4月14日
- 海外研TOPICS
- 2022年4月8日
- 表彰NECフェロー 今岡 仁、バイオメトリクス研究所 早坂 昭裕、森下 雄介、橋本 博志、高橋 巧一は、令和4年度科学技術分野の文部科学大臣表彰 科学技術賞(開発部門)を「世界の安全および安心に貢献する高精度な顔認証技術の開発」で受賞しました。
令和4年度科学技術分野の文部科学大臣表彰 科学技術賞(開発部門)
[NEC Stories]NEC技術支える「顔認証の顔」と若き研究者たち さまざまな“顔”の力で磨いた強みとは文部科学省
令和4年度科学技術分野の文部科学大臣表彰受賞候補者の推薦について
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