Japan
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表彰
2023年11月30日
公益財団法人 電気科学技術奨励会
第71回電気科学技術奨励賞
件名
生体認証実用性の拡大のための虹彩認証技術におけるNIST IREX10の精度世界１位獲得と維持
受賞者
- 戸泉 貴裕 （NECバイオメトリクス研究所 主任研究員）
- 高橋 巧一 （NECバイオメトリクス研究所 主任研究員）
- 塚田 正人 （NECバイオメトリクス研究所 主幹研究員）
- *所属、役職は受賞当時のものです。
受賞日
2023年11月30日
表彰式会場
学士会館 （東京都千代田区神田錦町3-28）
業績
従来、単一モーダルの生体認証では大人数での安定した本人確認が難しく、決済などの市場での利便性を高めることができなかった。そこで受賞者らは顔と虹彩のマルチモーダル認証に着目。特に虹彩認証を徹底的に強化し、 NIST（米国国立標準技術研究所）の虹彩認証ベンチマークIREX10で認証精度世界第1位を獲得した。さらに、顔と虹彩（どちらも世界第1位の精度）を組み合わせたマルチモーダル認証システムを製品化し、安定した高い認証精度を実現。これまで生体認証の導入が難しかった厳格な入退場管理において利便性向上に貢献し、今後、決済等その他へのシーンへの展開の可能性を向上させた。
関連情報
表彰について
第71回電気科学技術奨励賞NECプレスリリース
- 2018年4月27日
「NEC、米国国立機関による虹彩認証の精度評価で第1位を獲得～生体認証「Bio-IDiom」を中核としてセーフティ事業を加速～」 - 2019年11月6日
「NEC、歩きながらでも虹彩認証を可能にする技術を開発～世界No.1の虹彩認証エンジンを活用したウォークスルーでの本人確認を実現～」 - 2021年9月2日
「NEC、顔認証に続き虹彩認証でも米国国立機関による精度評価で第1位を獲得し、2冠を達成～非接触かつセキュアなマルチモーダル生体認証をさらに強化へ」 - 2022年11月8日
「NEC、世界No.1の顔認証技術と虹彩認証技術を搭載したマルチモーダル生体認証ソリューションを販売開始～誤認証率100億分の1の高精度な認証が即時に非接触で可能～」
NEC関連サービス
論文等の文献
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T. Toizumi, K. Takahashi and M. Tsukada, “Segmentation-free Direct Iris Localization Networks”, in Proceedings of IEEE/CVF Winter Conference on Applications of Computer Vision (WACV), 2023.
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Y. Ogino, Y. Shoji, T. Toizumi, R. Oami and M. Tsukada, “Fast Eye Detector Using Siamese Network for NIR Partial Face Images”, In Proceedings of the 18th International Joint Conference on Computer Vision, Imaging and Computer Graphics Theory and Applications (VISAPP), 2023.
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