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表彰

2023年4月29日

内閣府
令和5年春の褒章 紫綬褒章

件名

世界の安全および安心に貢献する高精度な顔認証技術の開発

受章者

  • 今岡 仁 (日本電気株式会社・NECフェロー)
  • *
    所属、役職は受賞当時のものです。

発令日

2023年4月29日(土)

伝達式

2023年5月15日(月)

伝達式会場

帝国ホテル東京

拝謁

皇居宮殿

業績

平成9年3月大阪大学大学院工学研究科博士課程修了後、平成9年4月日本電気(株)入社。平成14年9月マルチメディア研究所主任、平成30年4月バイオメトリクス研究所リサーチフェロー&ダイレクター、令和元年5月NECフェロー、令和3年4月東北大学特任教授(客員)に就任し、現在に至る。
2000年代前半、スマートデバイスの普及や出入国管理などをより厳格に行うため、顔認証に対する社会的な要請が飛躍的に高まった。しかし、顔認証を実用化するためには、認証精度および速度の両面に課題があり、高精度で高速な手法の開発が強く望まれていた。
これを実現するため、「本人」と「似ている他人」の境界付近にあるデータのみに着目し分析する、機械学習・深層学習の手法を世界に先駆けて取り入れ、「本人」と「他人」を少量の特徴量で識別できる手法を開発し、性能を飛躍的に向上させた。これによって、環境変化や経年変化がある本人、よく似た他人を高速・高精度に識別することを可能にした。
本開発により、米国国立標準技術研究所(NIST)による平成30年の評価では、160万人規模のデータベース上で、認証エラー率0.4%、検索速度2.3億件/秒を達成し、認証精度および速度を飛躍的に向上させた。さらに、経年変化に対する頑強性など、実用面での有効性が高いことが評価された。これらのNISTの評価において複数回トップ評価を獲得し、顔認証の実用化に寄与した。世界最高精度の顔認証システムは、日本国内では、成田国際空港や羽田空港等の主要空港、税関などで利用されるとともに、海外においても北米・欧州・アジアをはじめとする世界各国の主要空港のほか、インド国民ID制度など45ケ国で採用され、世界の安全・安心に貢献している。

褒章の記
褒章
今岡さん

関連情報

表彰について

NECプレスリリース

NEC関連製品・技術紹介

論文等の文献

表彰

2022年4月8日
令和4年度科学技術分野の文部科学大臣表彰 科学技術賞 (開発部門)
PDF令和4年度 科学技術分野の文部科学大臣表彰 科学技術賞
NEC、「令和4年度科学技術分野の文部科学大臣表彰」を受賞

2020年12月15日
Year 2020 Spring APSIPA Industrial Distinguished Leader
(2020年春季 アジア太平洋・信号情報処理学会 産業卓越リーダー賞)
Asia-Pacific Signal and Information Processing Association(アジア太平洋・信号情報処理学会)
new windowAPSIPA - Industrial Activities

2020年6月4日
2020年度 第57回(令和元年度)業績賞
PDF「高精度な顔認証技術の開発と実用化」 (一社)電子情報通信学会

2016年11月10日
平成28年度関東地方発明表彰 発明奨励賞
new window「高精度顔認証方式(特許第5418991号)」 (公社)発明協会

2015年2月2日
第3回技術経営・イノベーション賞・文部科学大臣賞
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PDF4 イノベーション賞表彰式.indd (jates.or.jp)
NEC、「第3回技術経営・イノベーション賞」を受賞

2011年7月27日
第25回(2011年度)独創性を拓く先端技術大賞 フジサンケイビジネスアイ賞
「高精度顔認証の研究開発」 フジサンケイビジネスアイ
new window独創性を拓く 先端技術大賞 (sankei-award.jp)

2011年6月2日
2010年度喜安記念業績賞
new window「高精度顔認証技術の研究開発」 (一社)情報処理学会

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