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ハードウェア・スキャンについて
PCの健康診断ツール掲載日：2024.8.28
ハードウェア・スキャンについて
本ツールはお使いのPCを構成するモジュール(部品)についてスキャンを行い、モジュールの動作の問題をチェックするツールです。
問題が確認された場合には対処方法の案内も行います。
※ 本ページでは、Windows版ハードウェア・スキャンの詳細を案内します。
※ BIOS版ハードウェア・スキャンは、Windows が起動できない場合でもご利用いただけます。（一部機種でのみ対応）
※ BIOS版ハードウェア・スキャンの詳細は、マニュアル「活用ガイド」をご参照ください。
| スキャン項目 | Windows版 | BIOS版 |
|---|---|---|
| CPU | ○ | ○ |
| メモリ | ○ | ○ |
| ストレージ | ○ | ○ |
| バッテリー | ○ | ○ |
| ディスプレイ | × | ○ |
| マザーボード | × | ○ |
| ワイヤレスネットワーク | ○ | × |
| サウンド | ○ | × |
ツールの起動方法について
ハードウェア・スキャンを使用するには、次の手順に従って操作してください。
Windows版の場合：
-
Windowsのスタートボタン
をクリック -
「すべてのアプリ」をクリック
-
「PC設定ツール」を選び、表示された画面から「ハードウェア・スキャン」をクリックしてください。
※お使いの機種によってはPC設定ツールの項目数が異なる場合があります。
BIOS版の場合：
※ 一部機種(タイプVZおよび、タイプVM-M、VE-M、VF-M)でのみ対応します。
-
電源を入れ、すぐに【F10】を数回押す。タイプVZの場合は、電源を入れパソコンを起動。本機を再起動して、すぐに【F10】を数回押す。
-
「NEC Diagnostics UEFI」が表示されます。
BIOS版ハードウェア・スキャンの詳細、および使用方法についてはPC本体のマニュアル「活用ガイド」にてご案内しております。活用ガイドをご覧ください。
マニュアル【活用ガイド】
→ トラブル解決Q&A
→ ハードウェア・スキャン
※ PC本体型番をもとにマニュアルを検索する場合： PC検索システム
※ 機種一覧からマニュアルを検索する場合： 電子マニュアルビューア
診断方法について（以下、Windows版の説明です)
本ツールでの診断方法は簡易的に全モジュールをチェックする「クイックスキャン」と、モジュールと診断内容を指定して詳しく調べる「カスタムスキャン」の2種類があります。
また、必要であれば診断をキャンセルすることも可能です。
診断結果について
クイック/カスタムスキャンが終了すると、結果画面が表示されます。スキャンの結果に問題が無い場合は「正常」という文字が表示されます。
スキャンの結果、お客様のPCの動作に何らかの問題が確認された場合は「問題が見つかりました」という文字が表示され、その下にどのモジュールの動作で異常が発生したかのメッセージが表示されます。
診断対象について
本ツールは以下のモジュールについてスキャンを実行します。また、モジュールに対して 行う診断の詳細については 診断項目の詳細について をご参照ください。
| 項目 | クイックスキャン目安時間 | カスタムスキャン目安時間 |
|---|---|---|
| CPU | 合計：4～10分 | 10分 |
| メモリ | 8GBの場合 20分 | |
| ストレージ | 512GBの場合 5分 | |
| バッテリー | 1分 | |
| ワイヤレスネットワーク | 1分 | |
| サウンド | 1分 |
診断結果が「問題が見つかりました」の場合について
診断結果が「問題が見つかりました」の場合はPCを構成するモジュールの動作が異常または機能的な故障が発生している可能性があります。以下にそれぞれのモジュールで「問題が見つかりました」となった場合の対応方法を記載します。
| CPUにて問題が見つかった場合 | PCのCPUに異常が確認されたため、PCの使用に支障が出る可能性があります。 しばらく症状が改善しない場合は修理/保守窓口へご相談ください。 |
|---|---|
| メモリにて問題が見つかった場合 | PCのメモリに異常が確認されたため、PCの使用に支障が出る可能性があります。 しばらく症状が改善しない場合は修理/保守窓口へご相談ください。 |
| ストレージにて問題が見つかった場合 | PCのストレージ(HDD/SSD)にて異常が確認されました。保存されているデータの破損やOSやアプリの読み込み不良が発生する可能性があります。 バックアップを行った後、修理/保守窓口へご相談ください。 |
| バッテリーにて問題が見つかった場合 | バッテリーの状態に問題がある可能性があります。 バッテリーゲージリセット等を実行しても解決しない場合はバッテリーの寿命または故障によりバッテリーの交換が必要である可能性があります。ACアダプタなしでPCをお使いになることがある場合は、バッテリー交換サービスへ連絡してください。 |
| ワイヤレスネットワークにて問題が見つかった場合 | ネットワークとの接続状況やアクセスポイントの環境等を確認して再度スキャンをしてください。 テスト結果が改善しない状態が続く場合や、テストが成功しているにも関わらず通信ができない状態が続く場合はネットワーク管理者へ連絡をしてください。 |
| サウンドにて問題が見つかった場合 | サウンドデバイスの状態に問題がある可能性があります。 PCの音量設定や音声再生/録音デバイスの確認をしていただき、問題が解決しない場合は修理が必要な場合があります。修理/保守窓口へご相談ください。 |
※ 複数項目で問題が見つかった場合には画面上で一番上に表示されている文言の内容を確認してください。深刻な問題順にメッセージが表示されます。
診断結果が「重要」の場合について
診断結果が「重要」の場合はPCを構成するモジュールは故障でありませんが、注意して使用する事をおすすめします。以下に「重要」となる場合の状態の説明を記載します。
| ストレージの空き領域テストにて「重要」となった場合 |
ストレージの空き容量が20％未満です。 |
|---|---|
| ワイヤレスネットワークのテストにて「重要」となった場合 |
ワイヤレスネットワークがオフになっているなど、ワイヤレスネットワークが使用できない設定の可能性があります。 |
ログの保存方法について
スキャン結果が失敗の場合で修理サービスへの連絡を行う際にスキャン結果をログとして保存し、送付を行う事で故障個所の確認が可能となります。
スキャン結果画面の右側にある「リザルトログを保存」という文字をクリックし、画面の指示に従ってログを保存してください。
修理やバッテリ交換に関するお申込み
保守契約に関するご相談
ご購入いただいたNEC営業拠点・販売店かNECフィールディング 支店・営業所にご相談ください。
修理、保守窓口
企業のお客様
NECビジネスPC修理受付センター
SOHO、個人のお客様
121コンタクトセンター
121コンタクトセンターでの修理受付には、NEC LAVIE公式サイトの「お客様登録」が必要です。
※ 「お客様登録」の際には、ご購入商品の登録が必要です。ログインIDの取得及びご購入商品の登録
バッテリ交換に関するご相談
バッテリーに異状が検知された場合は、バッテリ交換サービス窓口までご相談ください。
または、バッテリ関連のサービスを契約されている場合は、ご契約されているサービスの窓口へご相談願います。
バッテリー交換サービスhttps://support.nec-lavie.jp/ss/battery/replace/
※注意事項
「VersaProシリーズ」の窓口をご利用ください。
ページ内に表示されている内容をよくご確認の上利用してください。
診断項目の詳細について
本ツールはPCを構成する各モジュールに対して以下に示すようなスキャンを行い、モジュールの動作を診断します。
| モジュール | テスト項目 | 詳細 |
|---|---|---|
| CPU | BT 命令テスト | お使いのCPUにてBT命令が使用可能かを確認します。 |
| x87 浮動小数点テスト | お使いのCPUにてx87浮動小数点命令が使用可能かを確認します。この機能をサポートしていない場合は、サポートされていないという結果が返されます。 | |
| MMXテスト | お使いのCPUにてMMX命令が使用可能かを確認します。この機能をサポートしていない場合は、サポートされていないという結果が返されます。 | |
| SSEテスト | お使いのCPUにてSSEファミリー命令が使用可能かを確認します。この機能をサポートしていない場合は、サポートされていないという結果が返されます。 | |
| AESテスト | お使いのCPUにてAES命令が使用可能かを確認します。この機能をサポートしていない場合は、サポートされていないという結果が返されます。 | |
| ストレステスト | お使いのCPUにて連続チェックを10分間続けます。このテストの実行中、CPU温度が大幅に上昇することがあります。 | |
| メモリ | クイックランダムパターンテスト | すべてのメモリにランダムに生成されたパターンを書き込んだ後、そのパターンが正しく書き込まれていることを確認します。 |
| 詳細な整合性テスト | MarchC拡張アルゴリズムに基づき、アクセス可能なメモリすべてにパターンを書き込んでチェックします。 | |
| アドレステスト | 各メモリ・アドレスにアドレスを書き込みます。その後、アルゴリズムによって先に書き込まれたメモリを読み取り、アドレスを保持しているかどうかを確認します。 | |
| ビットローテスト | すべてのメモリー・バッファにすべてのビットが0であるパターンを書き込んだ後、内容を確認します。このパターンを確認する際に、パターンの2進数の補数を書き込み、最終的にその補数がそのままで保存されていることを確認します。 | |
| ビットハイテスト | すべてのメモリー・バッファにすべてのビットが1であるパターンを書き込んだ後、内容を確認します。このパターンを確認する際に、パターンの2進数の補数を書き込み、最終的にその補数がそのままで保存されていることを確認します。 | |
| ウォーキングワンレフトテスト | ウォーキング・ワン・レフト・テストは、一番右のビットのみがセットされたパターン(例:00000001)を書き込み、その後このパターンを、バイトのサイズの最後まで左に1つずらしながら(例:00000010)同じメモリ・アドレスにもう一度書き込めるかを確認します。 | |
| ウォーキングワンライトテスト | ウォーキング・ワン・ライト・テストは、一番左のビットのみがセットされたパターン(例:10000000)を書き込み、その後このパターンを、バイトのサイズの最後まで右に1つずらしながら(例:01000000)同じメモリ・アドレスにもう一度書き込めるかを確認します。 | |
| モジュロ-20テスト | 各ブロックでメモリの20番地ごとにパターンを書き込み、その他の番地に補数を6回書き込みます。他のテストとは異なり、モジュロ‐20テストはバッファまたはキャッシュの影響を受けません。そのため他のメモリ検出できないメモリの異常を検出できます。 | |
| 移動反転8bitテスト | すべてのメモリに8ビットのパターン"10000000"を書き込んだ後、パターンが正しく書き込まれていることを確認します。確認の際は、パターンの2進数補数(01111111)を書き込んで確認します。この処理を8回繰り返します。 | |
| 移動反転32bitテスト | アクセス可能なすべてのメモリに、2進法で左に1つずらした値のパターンを書き込みます。それぞれのメモリー・ブロックのアクセス可能なメモリに書き込まれます。パターンが一定の値に到達すると、0x00000001にリセットされます。その後、書き込まれた値を確認し、その値の2進数の補数を、メモリ・アドレスの最初から最後まで書き込みます。最後に、アルゴリズムによって書き込まれた補数を確認します。この確認は最終要素から始まり最初の要素に向けて行われます。このような処理が2回繰り返されます。 | |
| ランダムパターンテスト | すべてのメモリにランダムに生成されたパターンを書き込んだ後、そのパターンが正しく書き込まれていることを確認します。確認の際にはパターンの2進数補数を書き込んで、もう一度確認します。この処理を2回繰り返します。デフォルトでは、50個のランダムなパターンが使用されます。 | |
| 乱数シーケンステスト | すべてのメモリに各メモリ・アドレスごとに異なる1つのランダムに生成されたパターンを書き込んだ後、パターンが正しく書き込まれていることを確認します。確認の際は、パターンの2進数補数を書き込み、それをもう一度確認します。このような処理を2回繰り返します。 | |
| ブロック移動テスト | メモリー・データをメモリー・ブロック間で移動させます。この動作を80回以上繰り返します。 | |
| ニブル移動テスト | ニブル(ニブルは4ビットのグループ)への各メモリ・アドレスのパターン値の書き込みを行い、それぞれのニブルを個別に検証します。それぞれのアドレスのすべてのニブルが確認されるまで、このプロセスを繰り返します。 | |
| ストレージ | SMART 摩耗テスト | SMART属性を読み取ることで接続されているSSDデバイスの摩耗具合をチェックし、デバイスが良好な状態にあるか摩耗の限界に達しているかを確認します。 |
| NVMe SMART 温度テスト | ストレージデバイスの現在の温度が重大な状態であるかどうかを確認します。 | |
| NVMe SMART 信頼性テスト | SMARTメトリックスに基づいてストレージデバイスが信頼できるかどうかを検出します。 | |
| NVMe SMART 空き領域テスト | ストレージデバイスの空き領域が非常に低下しているかどうかを確認します。 | |
| リニア読み取りテスト | リニア・パターンに従ってそのセクタを読み取ることにより、ストレージデバイスの整合性を確認します。 | |
| NVMe コントローラステータステスト | このテストは、デバイスが期待どおりに動作するかどうかを確認します。 | |
| デバイス読み取りテスト | ストレージデバイスの異なる領域で正常にセクタを読み取ることができるかを確認します。 | |
| ランダムシークテスト | ランダムに選択された、いくつかのアドレスのセクタをチェックすることにより、ストレージデバイスのサーボメカニズムの整合性をチェックします。 | |
| 特定シークテスト | 特定のパターンに従ってセクタをチェックすることにより、ストレージデバイスのサーボ機構の整合性をチェックします。 | |
| フルディスクスキャンテスト | ディスクの完全検証を実施します。 | |
| 対象読込テスト | SMART ログで報告された不良セクタの近傍にあるセクタをチェックします。 | |
| SMART 自己テスト | 電気的および機械的コンポーネントのステータスとデバイスの読み取り能力をチェックします。 | |
| SMART ステータステスト | SMART から報告されるステータスを確認して、デバイスに欠陥があるかどうかを迅速に特定します。 | |
| デバイス書込みテスト | デバイスの異なる領域でデータを書き込むことができるかを検証し、その後データを正常に読み取ることができるかを確認します。 | |
| SMART ドライブ自己テスト | ディスクへのシーケンシャル読み取りとランダム読み取りを合わせて確認します。 | |
| SMART 伝達自己テスト | SMART によって返されたステータスを通じてデバイスの整合性をチェックします。 | |
| バッテリー | バッテリー状態テスト | デバイスの充電容量やその他の重要なバッテリー特性をチェックして、デバイスの正常性を評価します。 |
| ワイヤレスネットワーク | 無線有効化テスト | 無線がオンになっていることを確認します。 |
| ネットワークスキャンテスト | ワイヤレス・アダプターが正常に動作していることを確認します。このテストを実行する前に、適切に構成されたルーター又はアクセスポイントが近くにあることを確認してください。 | |
| 信号強度テスト | ワイヤレス・アダプターが正常に動作していることを確認します。このテストを実行する前に、適切に構成されたルーター又はアクセスポイントが近くにあることを確認してください。 | |
| サウンド | CORBステータス・テスト | このテストでは、コマンド送信リング・バッファー(CORB)メカニズムの状態を確認します。 |
| 出力ストリーム・テスト | このテストでは、出力ストリームの状態をチェックします。 | |
| 入力ストリーム・テスト | このテストでは、入力ストリームの状態をチェックします。 |
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