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表彰

2021年11月24日

公益財団法人 電気科学技術奨励会
第69回電気科学技術奨励賞

件名

サイバー攻撃リスクを洗い出す自動診断技術の開発と実用化

受賞者

  • 井ノ口 真樹(NECセキュアシステム研究所 主任)
  • 木下 峻一 (NECセキュアシステム研究所 主任)
  • 柳生 智彦(NECセキュアシステム研究所 主任研究員)
  • *
    所属、役職は受賞当時のものです。

受賞日

2021年11月24日

表彰式会場

学士会館 (東京都千代田区神田錦町3-28)

業績

これまでセキュリティ専門家が人手で行っていたリスク分析作業を、仮想システムモデル上でシミュレートする技術を開発、実用化した。本技術は仮想システムモデル上で診断することから、実システムに影響を与える危険性がなく、電力・ガスなどの重要インフラ設備や工場などの高い可用性が要求されるシステムの診断にも活用でき、自治体や重要インフラ事業者、製造業など様々な組織・企業との実証実験を通じて分析精度の高さと出力結果の有用性を検証し続けた結果、本技術を利用したサイバー攻撃ルート診断サービスの立ち上げを実現したことが評価された。

表彰状
表彰楯

左から、木下さん、井ノ口さん、柳生さん

関連情報

表彰について

NECプレスリリース

NEC 技術紹介

2021年10月1日 学会誌
「サイバー攻撃リスク分析と分析シート生成を自動化する技術を開発」、電子情報通信学会誌 ニュース解説 vol.104, No.10

NEC 関連サービス

論文等の文献

  1. “Design Procedure of Knowledge Base for Practical Attack Graph Generation,” ACM AsiaCCS, 2019
    new windowhttps://dl.acm.org/doi/10.1145/3321705.3329853
  2. “Extending Attack Graphs to Represent Cyber-Attacks in Communication Protocols and Modern IT Networks,” IEEE Trans. Dependable and Secure Computing, 2020
    new windowhttps://ieeexplore.ieee.org/document/9277665
  3. “A Framework for Modeling Cyber Attack Techniques from Security Vulnerability Descriptions,” ACM KDD, 2021 (accepted)
    new windowhttps://dl.acm.org/doi/10.1145/3447548.3467159

表彰

2020年度(令和2年度)山下記念研究賞
new windowhttps://www.ipsj.or.jp/award/yamashita2020.html

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