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NECの研究者

2021年3月29日

外川 遼介 （Ryosuke Togawa）

外川 遼介の写真

セキュリティ研究所
異常診断TG
特別研究員(主任)
理学修士

研究分野

  • 機械学習

論文・学会発表・学術誌掲載

  • ログメッセージの出力パターンを用いた障害分析手法の試作と評価, IEICE technical report : 信学技報 113(492), 63-68, 2014-03-13
  • ログの出力パターンに基づく大規模システム向けログ分析手法の開発と評価, IEICE technical report : 信学技報 114(390), 13-18, 2015-01-15
  • コンポーネント間の関係性を用いたヘテロ環境向けログ分析方式, 電子情報通信学会総合大会講演論文集 2016年_通信(2), 468, 2016-03-01

特許（公開済みのもの）

  • 特許6756379号 ログ分析方法、システムおよびプログラム
  • 特許6756378号 異常検出方法、システムおよびプログラム
  • 特許6798504号 ログ分析方法、システムおよびプログラム
  • 特許6787340号 ログ分析方法、システムおよびプログラム
  • 特許6508202号 情報処理装置、情報処理方法、及び、プログラム
  • 特許6233411号 障害分析装置、障害分析方法、および、コンピュータ・プログラム
    その他出願多数

Basic Information

NEC技報

  • 時系列データ モデルフリー分析技術, NEC technical journal 72(1), 104-108, 2019-10

関連プレスリリース

製品

略歴

2010年3月
東京大学大学院 理学系研究科 地球惑星科学専攻 修士課程修了

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