Japan
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NECの研究者
2019年9月17日
今岡 仁 (Hitoshi Imaoka)
DXフェロー
博士(工学)
研究分野
- 顔認証 機械学習 画像処理 バイオメトリクス
略歴
- 1997年
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大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻 博士課程修了。博士(工学)取得。
- 1997年
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NEC入社。基礎研究所にて、脳視覚情報処理に関する研究開発に従事。
- 2002年
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NECマルチメディア研究所に異動。顔認証技術に関する研究開発に従事。NECの顔認証製品「NeoFace」の事業化に貢献。
- 2009年-
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研究開発チームリーダーとして、顔認証技術に関する米国国立標準技術研究所が実施したベンチマークテストで4回連続トップ獲得(2009年、2010年、2013年、2017年)。
- 現在
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NECフェロー。NECの生体認証製品は70ヶ国以上で採用。
受賞等
- 2018年
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NEC Contributors of the Year 業績貢献賞
- 2015年2月
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一般社団法人・科学技術と経済の会 第3回技術経営・イノベーション賞 文部科学大臣賞 「世界No.1精度の顔認証技術で安心・安全な社会の実現に貢献」
- 2011年7月
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第25回(2011年度)独創性を拓く先端技術大賞 フジサンケイビジネスアイ賞「高解像度顔認証の研究開発」
- 2011年6月
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情報処理学会平成22年度喜安記念業績賞「高精度顔認証技術の研究開発」
- 2011年
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NEC社長賞 等
WEB掲載
- 世界が認めるNECの顔認証技術 米国政府機関主催のベンチマークテストで連続4回 第1位獲得!
所属学会
- 情報処理学会 財務理事(2016-2017)
- 電子情報通信学会バイオメトリクス研究会(副委員長) (2017-2018)
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