NEC、米国のジョン・F・ケネディ国際空港に入国審査用の顔認証システムを納入
2016年6月13日
日本電気株式会社
NECは、米国を代表する大規模空港であるジョン・F・ケネディ国際空港（所在地：ニューヨーク、以下JFK空港）に、入国審査用の顔認証システムを納入しました。本システムは、現地のシステムインテグレータであるUnisys社を通じて提供したものであり、既に稼働を開始しています。
米国では、セキュリティの向上とスムーズな入国審査の実現を目的として、国土安全保障省 税関・国境取締局（CBP）が全米の国際空港における出入国管理を強化しており、本プロジェクトはその活動の一環です。
NECは社会ソリューション事業に注力しており、中でも海外の成長戦略の柱として「セーフティ事業」を強化しています。今後も先進技術の開発や実証を進め、安全・安心で豊かな社会の実現に貢献していきます。
NECがJFK空港に納入したのは、顔認証システム「NeoFace（ネオフェイス）」(注1)です。入国審査用の自動ゲート（Unisys社が設置）で読み取ったeパスポートの顔写真データと、ゲートに備え付けられたカメラで撮影した旅行者の顔写真をリアルタイムに照合し、同一人物であるかどうかを高精度に判定するために利用されます。
JFK空港では、ビザ免除プログラム（注2）を使って初めて米国に入国する旅行者と、eパスポートを保有する米国籍の帰国者を対象に、本システムの運用を開始しています。
NECの顔認証技術は、米国国立標準技術研究所が実施したベンチマークテストにおいて、世界1位の照合精度を有するとの評価を得ています（注3）。今回のJFK空港のほか、米国アリゾナ州交通局(注4)、ブラジル主要14国際空港における税関業務(注5)など、これまでに世界40カ国以上で導入されています。
NECグループは、安全・安心・効率・公平という社会価値を創造する「社会ソリューション事業」をグローバルに推進しています。当社は、先進ICTや知見を融合し、人々がより明るく豊かに生きる、効率的で洗練された社会を実現していきます。
以上
- (注1) http://jpn.nec.com/biometrics/face/index.html
- (注2)特定の国籍の人物が米国に渡航する際、有効なパスポート、往復または次の目的地までの航空券・乗船券を所持し、渡米目的が短期の商用や観光であれば、ビザなしで米国に90日以下の滞在が可能となるプログラム。日本を含む30か国以上の国が対象となっている。
- (注3) NEC、米国国立標準技術研究所（NIST）の顔認証技術ベンチマークテストで3回連続の第1位評価を獲得
http://jpn.nec.com/press/201406/20140620_01.html - (注4) http://jpn.nec.com/press/201508/20150825_01.html
- (注5) http://jpn.nec.com/press/201507/20150716_02.html
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