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実践 誰でもできるAI官能検査セミナー

~直観的なGUIで画像検品を効率化~

製造現場の担当者でもコーディングなしで簡易的に画像検査システムを構築することを可能とする製品「TechView」と、NEC独自のAI(深層学習)ツール「RAPID機械学習」の連携についてデモを交えながらご紹介します。

開催概要

日時
2019年7月4日(木)  13:30~17:00  (受付開始 13:00)
会場
NEC Future Creation Hub KANSAI
大阪市中央区城見1-4-24 NEC関西ビル 2階
new window会場アクセス
主催
日本電気株式会社
日本エレクトロセンサリデバイス株式会社
参加費
無料
定員
50名
対象
AI画像処理による製造ラインの検査検品に関わる実務担当者
お申し込み
締め切り
2019年7月3日(水) 17:00
定員に達し次第締め切りとさせていただきます。

お問い合わせ

日本電気株式会社
AIプラットフォーム事業部
info@techview.jp.nec.com