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NEC R&D Members

森下 雄介

NEC 中央研究所
データサイエンス研究所
主任

所在地: 〒211-8666 神奈川県川崎市中原区下沼部1753

研究分野

  • 顔検出、顔認証
  • 視線推定

論文誌

  • H. Imaoka, A. Hayasaka, Y. Morishita, A. Sato and T. Hiroaki, "NEC's Face Recognition Technology and Its Applications," NEC Journal of Advanced Technology, vol.5, pp.28-33, 2010.

受賞等

  • 2011年情報処理学会 喜安記念業績賞
  • 2011年第25回独創性を拓く 先端技術大賞「フジサンケイ ビジネスアイ賞」

略歴

  • 2006年3月筑波大学第三学群情報学類 卒業
  • 2008年3月筑波大学大学院システム情報工学研究科コンピュータサイエンス専攻 修了
  • 2008年4月日本電気株式会社 入社

国際会議

  • Jia Hao, Yusuke Morishita, Toshinori Hosoi, Kazuyuki Sakurai, Hitoshi Imaoka, Takao Imaizumi, Hideki Irisawa, "Large-Scale Face Recognition on Smart Devices," First Asian Conference on Pattern Recognition (ACPR2013), pp.736-737, 2013.
  • Y. Morishita and H. Imaoka, "Facial Feature Detection using Generalized LVQ and Facial Shape Model," The Tenth IAPR Conference on Machine Vision Applications (MVA2011), pp.410-413, 2011.
  • H. Imaoka, Y. Morishita and A. Hayasaka, "Real-Time Face Recognition demonstration," The Ninth IEEE International Conference on Automatic Face and Gesture Recognition (FG2011), pp.344, 2011.

国内研究会/シンポジウム

  • 森下 雄介, 今岡 仁, “視線変化に着目した映像によるなりすまし攻撃の検知手法,” 第4回 バイオメトリクスと認識・認証シンポジウム (SBRA2014), S-2-1, pp.63, 2014.
  • 森下 雄介, 今岡 仁, “GLVQを用いた識別的アプローチによる顔特徴点検出,” 第17回 画像の認識・理解シンポジウム (MIRU2014), SS1-43, 2014.
  • ハオ ジャ, 森下 雄介, 細井 利憲, 今岡 仁, 今泉 峻生, 入澤 英毅, “Face recognition for smart devices,” 第19回 画像センシングシンポジウム (SSII2013), DS1-05, 2013.
  • 回 盻, 森下 雄介, 細井 利憲, 今岡 仁, “顔特徴点の信頼度と配置を用いた顔の誤検出除去,“ 第18回 画像センシングシンポジウム (SSII2012), IS1-19, 2012.
  • 早坂 昭裕, 森下 雄介, 今岡 仁, “Webカメラを用いた動画像顔認証システム,“ 第17回 画像センシングシンポジウム (SSII2011), DS2-01, 2011.
  • 森下 雄介, 今岡 仁, “一般化学習ベクトル量子化と顔形状モデルによる顔特徴点検出,” 第9回 情報科学技術フォーラム (FIT2010), H-037, 2010.

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