ページの先頭です。
サイト内の現在位置を表示しています。
  1. ホーム
  2. イベント・セミナー
  3. ディープラーニングによる製品検査の自働化
ここから本文です。

ディープラーニングによる製品検査の自働化-NEC Industrial Iot/AI Visual Inspection-

NEC Advanced Analytics 「RAPID機械学習」、データ連携・統合開発基盤 「Talend」合同セミナー

人工知能の最有力技術として注目される「ディープラーニング」。その技術をコアにしたNECの機械学習エンジン「RAPID機械学習」は、お手本データを学習させることで様々な判断を行います。実社会での運用が進むにつれ、より高精度な分析結果を得るため、大量データの効率的な収集・統合・整形が求められてきました。
本セミナーでは、RAPID機械学習とデータの収集・加工処理の開発基盤 Talendを軸にした、データ分析基盤をご紹介します。

開催概要

日時
2017年7月5日(水)  15:00~16:30  (受付開始 14:30)
会場
NECプラットフォームイノベーションセンター(NEC本社)
東京都港区芝5-7-1
主催
NEC クラウドプラットフォーム事業部
参加費
無料
定員
20名
対象
・製造業のお客様で、現場へのAI活用をご検討中の方
・AI/機械学習に興味がある方
・データ分析を検討している方

スケジュール(予定)

時間 タイトル
15:00-15:15
(15分)
AI・アナリティクスのビジネス活用へ向けた 有効なアプローチとステップ
~製造業のためのAIとデータの活用とは~
15:15-15:45
(30分)
Talendで始めるデータプレパレーション
~AIでデータを活用する“前”の3つのポイント~
15:45-16:25
(40分)
製造業におけるディープラーニング活用の神髄
~NECが実現するAI外観検査~
16:25-16:30
(5分)
質疑応答

お問い合わせ

NEC
クラウドプラットフォーム事業部 セミナー事務局
info@dbg.jp.nec.com
TEL: 044-431-7677
事務局受付時間: 9:00~12:00/13:00~17:00 月曜~金曜日
        (祝日・NECの所定の休日を除く)



イベント・セミナー一覧へ戻る

ページの先頭へ戻る