ページの先頭です。
サイト内の現在位置を表示しています。
  1. ホーム
  2. ソリューション・サービス
  3. エンジニアリングソリューション
  4. 計測・生産システム開発
  5. 光部品/光増幅器特性試験装置
ここから本文です。

光部品/光増幅器特性試験装置

光部品/光増幅器の光学特性を高精度で効率的に検査する装置をご提案します。

情報通信のトラフィック量は、インターネットの利用拡大、コンテンツの多様化・大容量化により、益々増加しています。これを支える光通信機器も、さらなる高速化、広帯域化、高品質化が求められています。光部品/光増幅器特性試験装置は、部品または製品レベルでの利得(又は損失)、平坦度、偏光依存性など各種光伝送特性を測定します。

システム構成イメージ

光部品/光増幅器の伝達/増幅特性を高精度に検査する装置です。
0.1dB以下の高精度測定を実現するために、低偏光依存性損失、高精度切替再現性の光カプラ、光セレクタなど、光学部品を厳選して測定系を構成します。
さらに測定経路毎の損失および波長依存性データを自動的に取得し、測定条件や測定結果に反映する測定系校正機能を盛込んでいます。

光部品/光増幅器特性試験装置システム構成イメージ

システムの特長

  • 損失/利得、雑音指数、偏光依存性損失、アイソレーション、反射減衰量など各種光学特性を自動的に検査します。
  • 検査中に次の製品の接続および検査予約が可能です。数十個の2ポートデバイスを予約できます。
  • 製品への電源供給や恒温槽温度の自動制御により、通電ヒートアップ時間や温度環境安定待ち時間を考慮したスケジュール編成が可能となり、効率的な連続運転を実現しています。万が一、給電や温度に異常が発生した場合は、その製品の検査をスキップして別製品の検査を開始しますので、休日や夜間など無人状態でも無駄な時間の発生を抑えることができます。
  • スケジューリング/モニタ機能、計測機器制御、恒温槽制御、電源制御などの制御系機能を分散処理化し、将来的な機能追加、増設などを容易にしています。
主な測定項目 測定精度
利得、損失 ±0.1dB
利得平坦度 ±0.02dB
雑音指数 ±0.2dB
偏光依存性(利得、損失) ±0.02dB
アイソレーション ±0.2dB
後方散乱光損失 ±0.2dB
反射減衰量 ±1.0dB

ページの先頭へ戻る