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EMC/ESD測定サービス

EMI/ESD 無償測定サービス

測定効果・導入効果を試してみませんか?
お気軽に弊社営業までご相談ください。

EMI/ESD測定のイメージ

  • 場所
    NEC玉川事業場内の弊社施設

  • 対応日
    別途ご相談(準備等含め約4時間程度)

  • 測定ポイント数
    EMI可視化:10,000ポイント(各X,Y方向)
    ESD可視化:4,000ポイント(各X,Y方向)

  • その他条件
    平面測定のみ
    1社1部門1度限り(※2回目以降は有償で承ります)
    事前予約制、重複時は先行社優先

測定方法

電磁界プローブをユーザ設定された間隔(ピッチ)で1点ずつ計測

測定方法図解

ESD可視化測定時間計算(1セット1.5秒とした場合の例)

3cm×5cmの対象物を計測した場合の説明図。1mmピッチでは、1500ポイント×2回で3000回計測するため、約6000秒かかる。10mmピッチでは15ポイント×2回で30回計測するため、約45秒。

プリント基板、デバイスへのノイズ印加耐力測定(有償)

EMC可視化システムを使用して、PWBやデバイス(半導体)の上部からインパルスを局所的に与え、誤動作箇所の特定を実施します。

イミニティによる誤動作でお悩みのお客さまへ

  • 「PWBのどの部分が弱い」か確認したい
  • 「デバイスの耐力」を確認したい
デバイス(ASIC、マイコンなど)における誤動作箇所を特定します。

測定条件

測定結果の表示例。誤作動箇所を黄色で表示しています。

  • 印加間隔
    Min 1㎜間隔

  • 印可範囲
    0.2kV~2.0kV
    パルス 10,50,100,200,250,400ns

測定費用

測定条件ごとにお見積りします。

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