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磁界プローブ法

磁界プローブ法 (Magnetic Probe Method:IEC 61967-6)

磁界プローブ

LSIに流れ込む高周波電源電流を測定する方法である。LSIの電源ピンから引き出した配線上に磁界プローブを近づけて、電流より発生した磁界を検出することで電源電流の測定を行う。

磁界プローブ

磁界プローブ法ソリューションのご提供

このたび、NECが開発した小型高精度磁界プローブを用いた磁界プローブ法(*1)がJEITA(*2)、IEC(*3)で審議 されIECのIS(*4)として平成14年6月に発行された事を受けて、磁界プローブ法に対応した磁界、プローブ磁界・電流測定システムの販売および LSI(*5)単独でのEMI(*6)評価基板の設計・製造等のソリューション事業を本格的に開始しました。
電子機器から放射される電磁波が、周囲に誤動作などの悪影響を及ぼすEMI問題における原因の一つとして、LSIに流れ込む高周波電源電流があり、この電流を適切に制御する技術が必要とされています。

これまで、LSIのEMIに関する情報は、製品カタログには殆ど掲載されませんでした。一部半導体メーカが固有の方法で測定したEMIデータを公開していましたが、公な測定方法ではないためその活用は限定されたものでした。

今後、国際規格として認められた磁界プローブ法を活用することで、半導体メーカはLSI単体でのEMI測定が必須となり、電子機器メーカは LSIのノイズ量を定量的に要求することができます。両者メーカ間で共有できるノイズ測定データを得られることにより、EMI問題の解決に大きく役立つ ことができます。すでに、社内規定を定め磁界プローブ法による測定を実施している半導体メーカもあります。

また、NECグループに対し、磁界プローブ法に準拠したLSI評価基板の設計・製造を行っておりましたが、このたび、磁界プローブ法が国際規格として発行されたことを受け、これまで当社が実際に製造・測定したノウハウを生かしたLSI評価基板の設計・製造を、各メーカに対しソリューションのご提供として開始しました。さらに、各メーカのご要望に応えるべく、LSIのEMI評価目的に合ったLSI評価基 板の設計・製造にも対応して参ります。

*1:IEC61967-6:Measurement of Conducted Emissions Magnetic Probe Method
*2:Japan Electronics and Information Technology Industries Association
(社団法人 電子情報技術産業協会)
*3:International Electrotechnical Commission(国際電気標準会議)
*4:International Standard(国際規格)
*5:Large Scale Integration(大規模集積回路)
*6:Electro Magnetic Interference(電磁妨害)

磁界プローブ法に関する情報
NEC【http://www.nec.co.jp/press/ja/9812/2201.html

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