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NECの顔認証技術

世界最高レベルの照合精度

NECは、米国国立標準技術研究所(NIST※1)が主催した精度評価コンテストに3回連続で参加し、全てのコンテストで2位以下のベンダに圧倒的な差を付けて、認証精度第一位を獲得しました。

  • ※1NIST
    National Institute of Standards and Technologyの略。
  • ※2MBGC
    Multiple Biometric Grand Challengeの略。悪質化・広域化・多様化する犯罪に対応するため、評価に必要なデータをベンダに配布してわせることで、研究を加速することを目的とし、NISTが開催したベンダ評価プロジェクト。2008年から2009年にわたり開催された。
  • ※3MBE
    Multiple-Biometric Evaluationの略。MBGCを約2年間推進した後、同様な技術課題に加え、実際のシステムに蓄積されている顔画像を利用する大規模1:N検索などを課す、 NISTが開催したコンテスト。グローバル市場において、バイオメトリクスを含むシステムの入札条件となる傾向にある。NECが出場した静止顔画像部門は2010年1~5月に開催された。
  • ※4FRVT
    Face Recognition Vendor Testの略。アプリケーションとして鑑識用途や出入国管理を想定してNISTが開催した顔認証技術ベンチマークテスト。各国のトップベンダーが参加し、警察が蓄積した犯罪者の画像や、WEBカメラで撮影された顔画像など実データを対象に、100万規模の大量の顔画像を用いて評価が行われた。2012年8月~2013年にわたり開催。

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